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您的位置:首頁  -  產(chǎn)品中心  -  冷熱沖擊試驗箱  -  三箱式冷熱沖擊試驗箱  -  TSC-252F-3P科研室芯片冷熱沖擊試驗箱

科研室芯片冷熱沖擊試驗箱

科研室芯片冷熱沖擊試驗箱用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質(zhì)量之用。信息電子儀器儀表恒溫恒濕試驗箱

  • 產(chǎn)品型號:TSC-252F-3P
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-04-28
  • 訪  問  量:182
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聯(lián)系電話:0769-81085066

產(chǎn)品詳情
品牌廣皓天高溫室+60℃→+150℃
升溫時間升溫+60℃→150℃≤25min低溫室-60℃→-10℃
降溫時間+20℃→-60℃≤60min溫度沖擊范圍(60℃→-150℃)→(-40℃--10℃)
溫度波動度±0.5℃溫度偏差±2.0℃
溫度恢復(fù)時間≤5min切換時間≤10ses
噪音≤65(db)

科研室芯片冷熱沖擊試驗箱






冷熱沖擊試驗箱又名高低溫沖擊測試箱,它是一種電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等工業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工、BGA、PCB基扳、電子晶片IC、半導(dǎo)體陶瓷及聚合物之物理性變體,以測試其材料對高冷性變體的反復(fù)抵觸拉力及產(chǎn)品在低溫下所造成的化學(xué)變體或物理傷害,從精密IC到重機械元件,均無所需的理想測試工具,以測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)極熱和極低溫度條件下所造成的化學(xué)變體或物理傷害。



科研室芯片冷熱沖擊試驗箱



科研室芯片冷熱沖擊試驗箱


產(chǎn)品用途:
冷熱沖擊箱適用于電子、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),測試各種材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力,試驗產(chǎn)品于熱漲冷縮產(chǎn)生的物理傷害或化學(xué)變化,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件,無一不需要它的認同。



結(jié)構(gòu)特點:
1、產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝先進、選材考究,具有簡單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能。
2、冷熱沖擊箱分為高溫箱,低溫箱,測試箱三部分,采用*的斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果,試驗時待測物靜止,應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷,熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實現(xiàn)冷熱沖擊測試目的。
3、采用先進的計測裝置, 控制器采用大型彩色液晶人機觸控對話式LCD人機接口控制器,操作簡單, 學(xué)習(xí)容易, 穩(wěn)定可靠。中、英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。具96個試驗規(guī)范獨立設(shè)定,沖擊時間999小時59分鐘, 循環(huán)周期1~999次可設(shè)定, 可實現(xiàn)制冷機自動運轉(zhuǎn),大程度上實現(xiàn)自動化,減輕操作人員工作量,可在任意時間自動啟動﹑停止工作運行。
4、箱體左側(cè)具一直徑50mm之測試孔,可供外加電源負載配線測試部件。
5、可獨立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時,可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖、冷熱沖擊之功能,具備高低溫試驗機的功能。
6、具備全自動,高精密系統(tǒng)回路、任一機件動作,*有P.L.C鎖定處理,全部采用P.I.D自動演算控制,溫度控制精度高。
7、先進科學(xué)的空氣流通循環(huán)設(shè)計,使室內(nèi)溫度均勻,避免任何死角。
8、完備的安全保護裝置,避免了任何可能發(fā)生安全隱患,保證設(shè)備的長期可靠性。






科研室芯片冷熱沖擊試驗箱

高低溫沖擊試驗箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn):

1、GB/T2423.1-2001低溫試驗方法;

2、GB/T2423.2-2001;

3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N;

4. 標(biāo)GJB150.3-86;

5. 標(biāo)GJB150.4-86;

6. 標(biāo)GJB150.5-86;

7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗;

8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗;

9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗;

10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱--一箱式;

11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱--二箱式;

12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化;

10、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則;

11、GB/T 2423.22-2002溫度變化;

12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則;

13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。


科研室芯片冷熱沖擊試驗箱












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